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SPECIM FX120熱成像推掃型高光譜成像係統

Specim FX120熱成像推掃型高光譜成像係統是一款長波紅外LWIR高光譜相機,支持7.7至12.3 μm的全光譜範圍。

  • 型號:SPECIM FX120
  • 品牌:Specim
  • 特點:Specim FX120熱成像推掃型高光譜成像係統是一款長波紅外 LWIR 高光譜相機,支持7.7至12.3 μm的全光譜範圍。
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產品簡介

Specim FX120熱成像推掃型高光譜成像係統是一款長波紅外 (LWIR) 高光譜相機,支持7.7至12.3 μm的全光譜範圍。這款熱推掃型HSI相機具有出色的光譜和空間成 像性能,非常適合礦產勘探、環境分析、熱異常檢測以及安全與安保應用。利用SisuRock 工作站,Specim FX120熱成像推掃型高光譜成像係統可實現快速、準確的岩芯掃描。

Specim FX120熱成像推掃型高光譜成像係統

產品特點

7.7至12.3 μm光譜範圍

160個光譜波段

616個空間像素

240FPS的高圖像速度(1 ms 曝光時間)

高信噪比

GigE Vision標準接口

可自由選擇的多感興趣區域 (MROI)

小巧堅固且可轉移

產品優勢

全LWIR光譜範圍:用於檢測礦物、氣體和熱異常等對象

高幀率和高信噪比:可實現準確分類以及高成像速度和吞吐量

堅固小巧且可轉移:便於輕鬆安裝到現有係統和各種操作環境中

易於集成:可通過標準GigE Vision 接口與商業分析軟件通信

與 SisuRock 兼容:利用 SisuRock 工作站實現快速、準確的岩芯掃描

高度均勻和滿阱容量:可捕捉詳細且準確的信息

產品技術參數

產品型號SPECIM FX120熱成像推掃型高光譜成像係統
光譜範圍7.7 - 12.3 μm
光譜分辨率 (FWHM)100 nm
光譜采樣/像素30 nm
不進行合並
光譜波段數量160
數值孔徑2
光學放大倍率0.5
有效像素大小30 μm
在前鏡頭圖像平麵上
有效狹縫寬度104 μm
在前鏡頭圖像平麵上
有效狹縫長度18.5 mm
在前鏡頭圖像平麵上
動態範圍 - 反射率測量4000:1 (1.5ms);6000:1 (0.2ms)
最大真實信號/暗噪聲
最大信噪比 - 反射率測量2500:1 (1.5ms);3000:1 (0.2ms)
最大真實信號/信號噪聲
最大信噪比 - 發射測量500
300 K 目標;對點大小進行平均
空間像素數616
位深16
最大幀率240 FPS
默認合並全影像和1 ms曝光時間
合並1、2、4 光譜和空間
默認設置:2光譜 x 1空間像素
ROI可自由選擇的多感興趣區域
ROI 的最小高度為兩個未 binning 的行。最大幀率由第一個 MROI 的第一
行和最後一個 MROI 的最後一行之間的總行數以及 MROI 中包含的總行
數決定。
可用像素比例>= 96 %
圖像校正非均勻性校正
壞像素替換
自動圖像增強 (AIE)
單點 NUC
AIE:統一光譜標定 + Smile 和 Keystone 畸變校正
傳感器材料MCT
集成冷卻器Stirling
滿阱容量20 Me-
讀出模式ITR
光學溫度TEC 穩定
默認為 20 攝氏度
鏡頭接口定製接口
前透鏡選項OLEL43、OLEL32
視場角24 度、32 度
相機數字數據輸出/控製接口GigE Vision、自定義以太網
相機控製協議GenICam、JSON-RPC
電源輸入24 V DC
功耗150 W
在光學器件和探測器同時冷卻期間
接口以太網
輔助
功率
觸發輸入
觸發輸出
IP 等級IP40
尺寸(長 x 寬 x 高)250 mm x 300 mm x 220 mm
兩側均提供安裝表麵選項。安裝套件在安裝側增加了 24 mm 的距離。
重量15 kg
存儲溫度-20 ... +50 oC
工作溫度+5 ... +40 oC
相對濕度5% – 95%(無冷凝)

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