Specim FX120熱成像推掃型高光譜成像係統是一款長波紅外LWIR高光譜相機,支持7.7至12.3 μm的全光譜範圍。
Specim FX120熱成像推掃型高光譜成像係統是一款長波紅外 (LWIR) 高光譜相機,支持7.7至12.3 μm的全光譜範圍。這款熱推掃型HSI相機具有出色的光譜和空間成 像性能,非常適合礦產勘探、環境分析、熱異常檢測以及安全與安保應用。利用SisuRock 工作站,Specim FX120熱成像推掃型高光譜成像係統可實現快速、準確的岩芯掃描。
7.7至12.3 μm光譜範圍
160個光譜波段
616個空間像素
240FPS的高圖像速度(1 ms 曝光時間)
高信噪比
GigE Vision標準接口
可自由選擇的多感興趣區域 (MROI)
小巧堅固且可轉移
全LWIR光譜範圍:用於檢測礦物、氣體和熱異常等對象
高幀率和高信噪比:可實現準確分類以及高成像速度和吞吐量
堅固小巧且可轉移:便於輕鬆安裝到現有係統和各種操作環境中
易於集成:可通過標準GigE Vision 接口與商業分析軟件通信
與 SisuRock 兼容:利用 SisuRock 工作站實現快速、準確的岩芯掃描
高度均勻和滿阱容量:可捕捉詳細且準確的信息
產品型號 | SPECIM FX120熱成像推掃型高光譜成像係統 |
光譜範圍 | 7.7 - 12.3 μm |
光譜分辨率 (FWHM) | 100 nm |
光譜采樣/像素 | 30 nm 不進行合並 |
光譜波段數量 | 160 |
數值孔徑 | 2 |
光學放大倍率 | 0.5 |
有效像素大小 | 30 μm 在前鏡頭圖像平麵上 |
有效狹縫寬度 | 104 μm 在前鏡頭圖像平麵上 |
有效狹縫長度 | 18.5 mm 在前鏡頭圖像平麵上 |
動態範圍 - 反射率測量 | 4000:1 (1.5ms);6000:1 (0.2ms) 最大真實信號/暗噪聲 |
最大信噪比 - 反射率測量 | 2500:1 (1.5ms);3000:1 (0.2ms) 最大真實信號/信號噪聲 |
最大信噪比 - 發射測量 | 500 300 K 目標;對點大小進行平均 |
空間像素數 | 616 |
位深 | 16 |
最大幀率 | 240 FPS 默認合並全影像和1 ms曝光時間 |
合並 | 1、2、4 光譜和空間 默認設置:2光譜 x 1空間像素 |
ROI | 可自由選擇的多感興趣區域 ROI 的最小高度為兩個未 binning 的行。最大幀率由第一個 MROI 的第一 行和最後一個 MROI 的最後一行之間的總行數以及 MROI 中包含的總行 數決定。 |
可用像素比例 | >= 96 % |
圖像校正 | 非均勻性校正 壞像素替換 自動圖像增強 (AIE) 單點 NUC AIE:統一光譜標定 + Smile 和 Keystone 畸變校正 |
傳感器材料 | MCT |
集成冷卻器 | Stirling |
滿阱容量 | 20 Me- |
讀出模式 | ITR |
光學溫度 | TEC 穩定 默認為 20 攝氏度 |
鏡頭接口 | 定製接口 |
前透鏡選項 | OLEL43、OLEL32 |
視場角 | 24 度、32 度 |
相機數字數據輸出/控製接口 | GigE Vision、自定義以太網 |
相機控製協議 | GenICam、JSON-RPC |
電源輸入 | 24 V DC |
功耗 | 150 W 在光學器件和探測器同時冷卻期間 |
接口 | 以太網 輔助 功率 觸發輸入 觸發輸出 |
IP 等級 | IP40 |
尺寸(長 x 寬 x 高) | 250 mm x 300 mm x 220 mm 兩側均提供安裝表麵選項。安裝套件在安裝側增加了 24 mm 的距離。 |
重量 | 15 kg |
存儲溫度 | -20 ... +50 oC |
工作溫度 | +5 ... +40 oC |
相對濕度 | 5% – 95%(無冷凝) |