DCM8光學表麵測量係統

Leica DCM8光學表麵測量係統采用了最新的非接觸式三維光學表麵測量技術。設計用於提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和幹涉測量技術優點的多功能雙核係統。一鍵模式選擇，精密軟件、無移動部件的高分辨率共聚焦掃描技術確保用戶實現超快速的分析操作。

高精確度和可重複性

您所查看的產品表麵是否具有比較陡峭的坡度還是具有複雜的形貌。通過徠卡Leica DCM8光學表麵測量係統高清共聚焦顯微鏡能夠實現2納米的垂直分辨率。您所查看的產品平麵是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑?

可從以下三種幹涉測量模式中選擇：垂直掃描幹涉測量(VSI);相移幹涉測量(PSI)或者適用於分辨率高達0.1納米的擴展相移幹涉測量(ePSI)。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像，則LeicaDCM8光學表麵測量係統可提供明視場模式和暗視場模式。

快速捕捉表麵數據

徠卡Leica DCM8光學表麵測量係統采用創新性高清微顯示掃描技術。由於傳感器頭部未使用運動部件，因此設備能夠實現快速和可重現的捕捉數據。集成式高清CCD攝像頭具有較大的視場，能夠觀察較大的樣本麵積。對於具有較大麵積區域的樣本來說，為獲得無縫和精確的模型，隻需要選擇超快XY地形拚接模式即可。

迅速匹配您的樣本

徠卡Leica DCM8光學表麵測量係統進行配置以便適用於您的樣本，從反光性表麵，到透明層下的表麵，再到需要較大工作距離的樣本-我們都能夠提供滿足您需求的高品質物鏡。對於大尺寸樣本來說，從我們的可調整鏡筒和電動載物台係列中進行選擇。除此之外係統還采用了四種不同顏色的LED燈，能夠使您選擇適用於具體材料觀察的波長。

能夠有效地對結構進行分析

友好的LeicaSCAN軟件能夠控製Leica DCM8設備。配方方案，多樣本和統計分析能夠優化工作流程。您是否還需要執行更為複雜的三維測量任務?那就選擇我們的徠卡Map軟件，以及全套高級分析工具。當然，如果您隻需要二維圖像，則徠卡應用程序套件(LAS)將會進一步擴展係統的測量功能。

獲取高質量的圖像

徠卡Leica DCM8光學表麵測量係統通過將優秀性能的光學元件與高清CCD攝像頭、紅色、綠色、藍色和白色LED光源相結合，徠卡Leica DCM8光學表麵測量係統能夠提供具有逼真的高清彩色圖像。再加上LED的連續性，能夠確保每個像素都能夠記錄真彩信息。分辨率和對比度提高的結果就是能夠為您的樣本提供水晶版清晰透徹的圖像。

目前和將來都夠獲取非常可靠的結果

高清微顯示掃描技術未配置任何運動部件，CCD攝像頭和4個LED燈均布置在兼顧緊湊的傳感器頭中。這種創新性設計能夠實現快速、可複製且無噪聲的圖像結果。值得一提的是，設備還具有較高的耐久性，實際上在較長的使用壽命期限內設備幾乎不需要任何維護操作。

材料性能最優化

不管您是用於生產用途還是研究用途，徠卡Leica DCM8光學表麵測量係統均能夠提供您所需要的精確、且可重複的測量分析結果，以便實現材料性能的優化。