徠卡Leica DM12000M高精度複檢係統

徠卡Leica DM12000M高精度複檢係統全新的光學設計,可以提供宏觀模式快速初檢,以及傾斜紫外光路功能(OUV, 傾斜紫外觀察模式) 不單提升了分辨率還提高了檢查12英寸(300毫米)矽片的效率。最新的 LED 照明技術一體化設計並整合在顯微鏡上. 低熱輻射和機身內一體化技術確保了最理想的機身外空氣流動狀態。低能耗的節電設計大大延長了使用壽命，符合綠色環保的理念。

一鍵式的操控設計使用戶可以輕易地完成倍率轉換和相關的照明和相襯效果。

優勢介紹

超過傳統觀察4倍以上的效率

低倍宏觀模式為您提供了比普通觀察技術4倍以上的視野。

高分辨率

全新的傾斜紫外觀察模式(OUV) 融合了紫外以及傾斜光技術,使您可以從多種角度來觀察樣品。

人體工學設計

最理想化的適合不同程度操作者的 長時間直覺操作設計。

LED 照明

一體化設計的 LED 照明Integrated LED Illumination 使機身四周的空氣流動達到理想狀態.長壽命與低能耗給使用企業帶來巨大的成本節省。